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產(chǎn)品清單|手機(jī)版|

物性測(cè)試儀器

上海儀電物光顆粒圖像分析儀WKL-702
上海儀電物光顆粒圖像分析儀WKL-702
  • 市場(chǎng)價(jià):¥61500
  • 品 牌:上海儀電物光
  • 主要參數(shù):
    測(cè)量范圍:1~3000微米
    總放大倍數(shù):8000倍
    最大分辨率:0.1微米/像素

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優(yōu)惠價(jià)請(qǐng)咨詢:021-80370061   
產(chǎn)品描述

上海儀電物光顆粒圖像分析儀WKL-702

產(chǎn)品特點(diǎn)

將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測(cè)量的顆粒分析儀器,由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析處理,具有直觀、形像、準(zhǔn)確和測(cè)量范圍寬等特點(diǎn)。

1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng)、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對(duì)比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動(dòng)分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長(zhǎng)、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測(cè)量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖。

技術(shù)參數(shù)

儀器型號(hào)

WKL-702

測(cè)量范圍

0.1~3000(微米)

總放大倍數(shù)

8000倍

最大分辨率

0.1微米/像素

重復(fù)性

誤差≤±1%

自動(dòng)分割速度

≤1秒

數(shù)字?jǐn)z像機(jī)(CCD)

500萬像素

數(shù)據(jù)儲(chǔ)存

電腦需另配(i5+8G內(nèi)存+純固態(tài)硬盤或雙硬盤以上配置)

通信接口

USB

操作系統(tǒng)

Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可

電源

AC220V ±10%,50 Hz, 200 W

儀器尺寸

270mm×410mm×440mm

儀器凈重

15kg


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